Plan d'échantillonnage proportionnel à la taille le plus proche contrôlé optimal - ARCHIVÉ

Articles et rapports : 12-001-X20070019856

Description :

Le concept de « plan d'échantillonnage proportionnel à la taille le plus proche » proposé par Gabler (1987) est utilisé en vue d'obtenir un plan d'échantillonnage contrôlé optimal assurant que les probabilités de sélection des échantillons non privilégiés soient nulles. L'estimation de la variance pour un plan d'échantillonnage contrôlé optimal à l'aide de la forme de Yates Grundy de l'estimateur d'Horvitz-Thompson est discutée. La variance d'échantillonnage réelle de la méthode proposée est comparée à celle des méthodes existantes de sélection contrôlée et non contrôlée sous grande entropie. L'utilité de la méthode proposée est démontrée au moyen d'exemples.

Numéro d'exemplaire : 2007001
Auteur(s) : Nigam, Arun Kumar; Pant, Ila; Tiwari, Neeraj

Produit principal : Techniques d'enquête

FormatDate de sortieInformations supplémentaires
PDF28 juin 2007