Imputation par régression quantile semi-paramétrique pour une enquête complexe avec application au Conservation Effects Assessment Project

Articles et rapports : 12-001-X201900200001

Description :

L’élaboration de procédures d’imputation appropriées pour les données ayant des valeurs extrêmes ou des relations non linéaires avec des covariables constitue un défi important dans les enquêtes à grande échelle. Nous élaborons une procédure d’imputation pour les enquêtes complexes fondée sur la régression quantile semi-paramétrique. Nous appliquons cette méthode au Conservation Effects Assessment Project (CEAP), une enquête à grande échelle qui recueille des données utilisées pour quantifier la perte de sol provenant des champs de culture. Dans la procédure d’imputation, nous générons d’abord des valeurs imputées à partir d’un modèle semi-paramétrique pour les quantiles de la distribution conditionnelle de la réponse pour une covariable donnée. Ensuite, nous évaluons les paramètres d’intérêt à l’aide de la méthode généralisée des moments (MGM). Nous dérivons la distribution asymptotique des estimateurs MGM pour une classe générale de plans d’enquête complexes. Dans les simulations destinées à représenter les données du CEAP, nous évaluons les estimateurs de variance en fonction de la distribution asymptotique et comparons la méthode d’imputation par régression quantile (IRQ) semi-paramétrique à des solutions de rechange entièrement paramétriques et non paramétriques. La procédure de l’IRQ est plus efficace que les solutions de rechange non paramétriques et entièrement paramétriques, et les couvertures empiriques des intervalles de confiance se situent à moins de 1 % du niveau nominal de 95 %. Une application à l’estimation de l’érosion moyenne indique que l’IRQ pourrait être une option viable pour le CEAP.

Numéro d'exemplaire : 2019002
Auteur(s) : Berg, Emily ; Yu, Cindy L.

Produit principal : Techniques d'enquête

FormatDate de sortieInformations supplémentaires
HTML27 juin 2019
PDF27 juin 2019

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Date de modification :